
電子元器件的壽命試驗(yàn)屬于( )
A、流動檢驗(yàn)
B、最終檢驗(yàn)
C、破壞性實(shí)驗(yàn)
D、全數(shù)檢驗(yàn)
電子元器件的壽命試驗(yàn)屬于( )
A、流動檢驗(yàn)
B、最終檢驗(yàn)
C、破壞性實(shí)驗(yàn)
D、全數(shù)檢驗(yàn)
答案:
C
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